Devil Killer Is Here MiNi Shell
MiNi SheLL

Current Path : /home/vmanager/www/common/web/tenders/20090504/
Linux 9dbcd5f6333d 5.15.0-124-generic #134-Ubuntu SMP Fri Sep 27 20:20:17 UTC 2024 x86_64
Current File : /home/vmanager/www/common/web/tenders/20090504/131404-N-2009.html
<p class="kh_header"><b>Warszawa: Spektrofotometr FTIR</b><br>
<b>Numer ogłoszenia: 131404 - 2009; data zamieszczenia: 04.05.2009</b><br>
OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy<br><br></p>

<p><b>Zamieszczanie ogłoszenia:</b> obowiązkowe.</p>
<p><b>Ogłoszenie dotyczy:</b> zamówienia publicznego.</p>

<p class="kh_title">SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY</p>

<p><b>I. 1) NAZWA I ADRES:</b> Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej , ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.</p>
<ul class="kh_indent_1">
</ul>
<p><b>I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:</b> Uczelnia publiczna.</p>

<p class="kh_title">SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA</p>

<p><b>II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA</b></p>
<p><b>II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:</b> Spektrofotometr FTIR.</p>
<p><b>II.1.2) Rodzaj zamówienia:</b> dostawy.</p>
<p><b>II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:</b> Przedmiotem zamówienia jest dostawa na Wydział Inżynierii Materiałowej Politechniki Warszawskiej fabrycznie nowego spektrofotometru FTIR.

Parametry techniczne wymagane:
1.	Zakres spektralny, co najmniej 7800 - 350 cm-1;
2.	Maksymalna rozdzielczość optyczna lepsza niż 0,4 cm-1;
3.	Rozdzielczość nominalna ustawiana w zakresie 0,5-32 cm-1;
4.	Szczelny i osuszany układ optyczny z okienkami KBr pokrywanymi BaF2 oddzielającymi optykę od przedziału próbek;
5.	Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem; 
6.	Szumy mniejsze niż 1,3x10-5 Abs (peak-to-peak, pomiar 1 minuta przy rozdzielczości 4cm-1, detektor DLaTGS);
7.	Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru;
8.	Układ optyczny wykorzystujący monolityczne lustra wzorcowe; 
9.	Ogniskowanie wiązki centralnie w  komorze pomiarowej aparatu;
10.	Justowanie interferometru na maksimum energii z poziomu oprogramowania; 
11.	Ceramiczne trwałe źródło promieniowania z możliwością pracy w trybach: normalnym i ekonomicznym - poza czasem pomiaru;
12.	Beamsplitter Ge/KBr;
13.	Detektor DLaTGS;
14.	Maksymalna szybkość skanowania nie gorsza niż 40 skanów/s przy rozdzielczości 16cm-1;
15.	Precyzja długości fali: nie gorsza niż 0,01 cm-1;
16.	Komunikacja spektrometru z komputerem przez szybkie złącze USB 2.0;
17.	Panel sterowania na aparacie z przyciskami do szybkiego uruchomienia najczęściej wykonywanych, (co najmniej 5 przycisków w tym jeden programowalny przez użytkownika);
18.	Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu;
19.	Automatyczne rozpoznawanie przez system akcesoriów pomiarowych takich jak moduł do pomiarów transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne;
20.	Wkłady osuszające w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkładów osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu;
21.	Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej następujące wzorce: 
-	folia polistyrenowa o precyzyjnie podanej grubości; 
-	filtr szklany typu NG11;
22.	Przystawka pomiarowa do pomiarów transmisyjnych, wyposażona w co najmniej 3 szyny prowadzące do mocowania standardowych akcesoriów transmisyjnych. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru - po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu;
23.	Zestaw do przygotowania i pomiaru próbek metodą pastylek w KBr; 
24.	Możliwość rozbudowy o drugi pełnowymiarowy przedział pomiarowy;
25.	Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC wchodzący w wyposażenie spektrometru FTIR, pracujący w systemie Windows. 32-bitowe oprogramowanie dostarczane przez producenta spektrometru kompatybilne z Windows XP Pro, Vista. Musi być w pełni kompatybilne z systemami operacyjnymi w języku polskim. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows i przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows.  Musi zapewniać: 
-	możliwość tworzenia i przeszukiwania bibliotek widm;
-	logowanie użytkowników z różnymi poziomami dostępu;
-	funkcję automatycznego doboru wzmocnienia sygnału;
-	podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office);
-	moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji;
-	moduł spektralnej interpretacji widm;
-	automatyczną korekcję zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych;
-	wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w czasie pomiaru);
-	automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu;
-	aktywną diagnostykę w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu;
-	wydruki widm według dowolnie zdefiniowanych szablonów raportów: wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów;
-	archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu;
-	funkcje przetwarzania i prezentacji widm: wyświetlanie wielu widm jednocześnie, nakładanie widm, powiększanie dowolnego fragmentu widma, zmianę formatu z absorbancji na % transmitancji oraz na odwrót, przekształcanie do innych formatów np. Kubelka-Munk, korekcję linii podstawowej, wygładzanie widma, odejmowanie widm, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych;
-	funkcje analizy widm: znajdowanie i zaznaczanie pików, wyznaczanie absorbancji bezwzględnej oraz absorbancji netto, wyznaczanie pola powierzchni piku - bezwzględnego oraz netto, kursor spektralny;
-	moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej - co najmniej następujące: 
a) do analiz ilościowych:
-	Prawo Lamberta-Beera;
-	CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów).
b)	do analiz klasyfikacyjnych:
-	Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm);
-	Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa);
-	QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych..</p>
<p><b>II.1.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):</b> 38.43.32.10-4.</p>
<p><b>II.1.5) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej:</b> nie.</p>
<p><b>II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej:</b> nie.</p><br>
<p><b>II.1.7) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających:</b> nie.</p><p><b>II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA:</b> Zakończenie: 30.06.2009.</p>

<p class="kh_title">SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM</p>

<p><b>III.1) WARUNKI DOTYCZĄCE ZAMÓWIENIA</b>
<p><b>III.2) WARUNKI UDZIAŁU</b></p>
<ul class="kh_indent_1"><li><b>Opis warunków udziału w postępowaniu oraz opis sposobu dokonywania oceny spełniania tych warunków:</b> O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy spełniają warunki określone w art 22 ust 1 ustawy Prawo Zamówień Publicznych, oraz nie podlegają wykluczeniu z postępowania na podstawie art 24 ust 1 i 2 ustawy pzp. Ocena spełniania w/w warunków dokonana zostanie zgodnie z formułą: spełnia-nie spełnia, w oparciu o informacje zawarte w dokumentach i oświadczeniach stanowiących ofertę, zgodnie z SIWZ.</li>
<li><b>Informacja o oświadczeniach i dokumentach, jakie mają dostarczyć wykonawcy w celu potwierdzenia spełniania warunków udziału w postępowaniu:</b> W celu potwierdzenia, że wykonawca posiada uprawnienie do wykonywania określonej działalności lub czynności oraz nie podlega wykluczeniu na podstawie art. 24 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo zamówień publicznych z udziału w postępowaniu o zamówienie publiczne wykonawca składa następujące oświadczenia i dokumenty: 1. Dokumenty wymagane: - formularz ofertowy z wykorzystaniem wzoru- załącznik nr 1 - aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert - dokumenty potwierdzające posiadanie uprawnień/pełnomocnictw osób podpisujących ofertę, o ile fakt nie wynika z przedstawionych dokumentów rejestrowych, - koncesja, zezwolenie lub licencja, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania koncesji, zezwolenia lub licencji na podjęcie działalności gospodarczej w zakresie objętym zamówieniem publicznym zwanym dalej ZAMÓWIENIEM, - aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego oraz właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego potwierdzające odpowiednio, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków, opłat oraz składek na ubezpieczenie zdrowotne lub społeczne, lub zaświadczenia, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert. W celu potwierdzenia, że wykonawca posiada niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponuje potencjałem technicznym i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia w postępowaniu o zamówienie publiczne składa następujące dokumenty: -Wykaz wykonanych w okresie ostatnich trzech lat dostaw lub usług, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców- załącznik numer: 2. W celu potwierdzenia, że wykonawca znajduje się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia w postępowaniu o zamówienie publiczne składa następujące dokumenty: -Polisę lub inny dokument ubezpieczenia potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności gospodarczej.</li></ul>

<p class="kh_title">SEKCJA IV: PROCEDURA</p>

<p><b>IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA</b></p>
<p><b>IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia:</b> przetarg nieograniczony.</p>
<br><p><b>IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT</b></p>
<p><b>IV.2.1) Kryteria oceny ofert: </b>cena oraz dodatkowe kryteria i ich znaczenie:</p><ul class="kh_indent_1"><br>
<li>1 - Cena - 80</li>
<li>2 - serwis - 10</li>
<li>3 - gwarancja - 10</li>
</ul><p><b>IV.2.2) Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna:</b> nie.</p><br><p><b>IV.3) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE</b></p>
<p><b>IV.3.1)</b>&nbsp;<b>Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia:</b> http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/.<br><b>Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem:</b> Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)..</p>
<p><b>IV.3.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert:</b> 18.05.2009 godzina 11:00, miejsce: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)..</p><p><b>IV.3.5) Termin związania ofertą:</b> do 17.06.2009.</p>
Creat By MiNi SheLL
Email: jattceo@gmail.com